Ядро атома
<<  Фундаментальное ядро предметной линии: математика Анализ учебных программ для выделения содержания основных групп требований к условиям осуществления образовательного процесса Воздушные линии автоматики, телемеханики и связи  >>
Название дисциплины: Основы анализа поверхности твердых тел и тонких
Название дисциплины: Основы анализа поверхности твердых тел и тонких
ПРОДОЛЖИТЕЛЬНОСТЬ КУРСА: 2 семестра РАСПЕПРЕДЕЛЕНИЕ УЧЕБНОГО ВРЕМЕНИ:
ПРОДОЛЖИТЕЛЬНОСТЬ КУРСА: 2 семестра РАСПЕПРЕДЕЛЕНИЕ УЧЕБНОГО ВРЕМЕНИ:
Примерная
Примерная
Двуединая цель преподавания курса: - подготовка специалиста,
Двуединая цель преподавания курса: - подготовка специалиста,
Модули курса
Модули курса
Общие представления о методах анализа поверхности
Общие представления о методах анализа поверхности
Ионная эмиссия (ИЭ): факторы воздействия ускоренные до энергий 1–10
Ионная эмиссия (ИЭ): факторы воздействия ускоренные до энергий 1–10
ЭМИССИЯ
ЭМИССИЯ
Важнейшие инструментальные группы, необходимые для осуществления
Важнейшие инструментальные группы, необходимые для осуществления
10
10
Литература ОСНОВНАЯ Никитенков Н.Н. Изотопный, химический и
Литература ОСНОВНАЯ Никитенков Н.Н. Изотопный, химический и
ДОПОЛНИТЕЛЬНАЯ Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М
ДОПОЛНИТЕЛЬНАЯ Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М

Презентация на тему: «Основы анализа поверхности твердых тел и тонких пленок методами атомной физики». Автор: Alexey. Файл: «Основы анализа поверхности твердых тел и тонких пленок методами атомной физики.ppt». Размер zip-архива: 65 КБ.

Основы анализа поверхности твердых тел и тонких пленок методами атомной физики

содержание презентации «Основы анализа поверхности твердых тел и тонких пленок методами атомной физики.ppt»
СлайдТекст
1 Название дисциплины: Основы анализа поверхности твердых тел и тонких

Название дисциплины: Основы анализа поверхности твердых тел и тонких

пленок методами атомной физики Преподаватель: Д. ф. - м. н., профессор, Никитенков Николай Николаевич

1

2 ПРОДОЛЖИТЕЛЬНОСТЬ КУРСА: 2 семестра РАСПЕПРЕДЕЛЕНИЕ УЧЕБНОГО ВРЕМЕНИ:

ПРОДОЛЖИТЕЛЬНОСТЬ КУРСА: 2 семестра РАСПЕПРЕДЕЛЕНИЕ УЧЕБНОГО ВРЕМЕНИ:

Лекции 56 часов(ауд.) Лабораторные занятия 16 часов(ауд.) Практические(семинарские) занятия 8 часов(ауд.) Курсовая работа (темат. реферат) 16 часов(ауд.) Всего аудиторных занятий 96 часов Вне аудиторных занятий - чем больше, тем лучше!!!

2

3 Примерная

Примерная

рейтинговая система оценки текущих и итоговых знаний

Максимальный балл: Лекция: 28х10=280 Практическое занятие: 20х4=80 Лабораторное занятие: 20х5=100 Коллоквиум (тестирование): 35x4=140 Курсовая работа: 200 Экзамен: 200 Итого за курс: 1000 Примечания: Оценка за курсовую работу – отдельная строка в зачетке, то есть, не сделать курсовую работу нельзя. Хотя бы одна не сданная лабораторная работа лишает студента допуска к экзамену. Темы курсовых работ формулируются для каждого индивидуально, с учетом темы ВКР, но обязательно в рамках курса

3

4 Двуединая цель преподавания курса: - подготовка специалиста,

Двуединая цель преподавания курса: - подготовка специалиста,

владеющего современными методами исследования материалов, основанными на измерении характеристик частиц и излучений, испускаемых поверхностью твердого телом, при воздействии фотонов, рентгеновского излучения и при бомбардировке электронами или тяжелыми частицами; и - имеющего представления о физических явлениях, лежащих в основе изучаемых методов.

4

5 Модули курса

Модули курса

Физические явления, лежащие в основе методов диагностики поверхности Строение поверхности Теоретические основы методов электронной спектроскопии Теоретические основания методов ионной спектроскопии Основные узлы сверхвысоко-вакуумных аналитических установок

5

6 Общие представления о методах анализа поверхности

Общие представления о методах анализа поверхности

Факторы воздействия: Пучки электронов и ионов килоэлектронвольтных (кэВ-х) энергий, Фотоны ультрафиолетового и рентгеновского диапазонов, Электростатические поля, Температура. Параметры отклика: В электронной и фотонной спектроскопиях: Форма и интенсивность энергетических спектров вторичных электронов, ионов и фотонов. 2. В ионной спектроскопии: Состав и интенсивности массовых линий в спектрах масс вторичных ионов. О явлениях разговор отдельный !!!

Явления

6

7 Ионная эмиссия (ИЭ): факторы воздействия ускоренные до энергий 1–10

Ионная эмиссия (ИЭ): факторы воздействия ускоренные до энергий 1–10

КэВ ионы или атомы – это ионно-ионная или вторичная ионная эмиссия (ВИЭ); нагревание материала - это термо-ионная эмиссия (ТИЭ); электрические поля напряжённостью ~107 В/см - это полевая ионная эмиссия (ПИЭ); облучение материала фотонами - это фото-ионная или радиационно- стимулированная ионная эмиссия; облучение материала электронами - это электронно-ионная эмиссия (ЭИЭ); 2. Электронная эмиссия (ИЭ) - аналогично п.1 в зависимости от возбуждающего фактора: ионно-электронная эмиссия (ИЭЭ); термо-электронная эмиссия (ТЭЭ); полевая электронная эмиссия (ПЭЭ); фото-электронная эмиссия (ФЭЭ); электронно-электронная или вторичная электронная эмиссия (ВЭЭ); 3. Фотонная эмиссия (ИЭ) - аналогично пп. 1 и 2 в зависимости от возбуждающего фактора:

Классификация физических явлений – эмиссий, лежащих в основе методов анализа поверхности

7

8 ЭМИССИЯ

ЭМИССИЯ

СПЕКТРОСКОПИЯ: – ЯВЛЕНИЕ, СПЕКТРОСКОПИЯ – МЕТОД, ОСНОВАННЫЙ НА ДАННОМ ЯВЛЕНИИ. – объект фундаментальных исследований, СПЕКТРОСКОПИЯ – прикладной аспект фундаментальных исследований ЭМИССИЙ, позволяющий получать информацию о составе и структуре поверхности и твердого тела в целом.

8

9 Важнейшие инструментальные группы, необходимые для осуществления

Важнейшие инструментальные группы, необходимые для осуществления

эксперимента по диагностике поверхности Источники воздействия (электронные и ионные пушки или ускорители, источники рентгеновских, ультрафиолетовых и др. ?-квантов). Анализаторы (энергетические, массовые, монохроматоры). Детекторы отклика поверхности [цилиндры Фарадея, вторичные электронные и фотоэлектронные умножители (ВЭУ и ФЭУ), микроканальные пластины]. + электронно- и ионно-оптические устройства Все это в высоком или сверхвысоком вакууме + Электронные приборы, обеспечивающие работу указанных приборов и устройств (в том числе, блоки питания, измерительные приборы, вычислительная техника).

9

10 10

10

11 Литература ОСНОВНАЯ Никитенков Н.Н. Изотопный, химический и

Литература ОСНОВНАЯ Никитенков Н.Н. Изотопный, химический и

структурный анализ поверхности методами атомной физики. Томск: ТПУ, 2002, 198 с. Вудраф Д., Делчар Т. Современные методы исследования поверхности. - М.: Мир,1989. Нефедов В.И., Черепин В.Т.. Физические методы исследования поверхности твердых тел. – М.: Наука, 1983. Фелдман Л., Майер Д. Основы анализа поверхности и тонких пленок. – М.: Мир,1989. Черепин В.Т., Васильев М.А. Методы и приборы для анализа поверхности материалов. – Киев: Наукова думка, 1982.

11

12 ДОПОЛНИТЕЛЬНАЯ Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М

ДОПОЛНИТЕЛЬНАЯ Афанасьев А.М., Александров П.А., Имамов Р.М

Рентгеновская структурная диагностика в исследовании поверхностных слоев. – М.: Мир, 1986. Анализ поверхностей методами Оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (под ред. Д. Бриггса и М.П. Сиха) – М.: Мир,1987. Карлсон Т.А.. Фотоэлектронная и Оже-спектроскопия. – Л.: Машиностроение, 1981 Методы анализа поверхностей (под ред. А. Зандерны) – М.: Мир, 1979. Нефедов В.М. Рентгеноэлектронная спектроскопия химических соединений. Справочник. – М.: Химия, 1984. Петров Н.Н., Аброян И.А. Диагностика поверхности с помощью ионных пучков. – Л.: Изд-во ЛГУ, 1977. Применение электронной спектроскопии для анализа поверхностей (под ред. И. Ибаха) - Рига: Зинатне, 1980. Спектроскопия и дифракция электронов при исследовании поверхности твердых тел (под ред. Н.Г. Рамбиди) – М.: Наука, 1985. Распыление твердых тел ионной бомбардировкой. Вып. 1 и 2 (под ред. Р. Бериша). – М.: Мир, 1984. Физическая Энциклопедия в 5-ти томах. Москва. Научное издательство "Большая Российская энциклопедия", 1998 г.

12

«Основы анализа поверхности твердых тел и тонких пленок методами атомной физики»
http://900igr.net/prezentacija/fizika/osnovy-analiza-poverkhnosti-tverdykh-tel-i-tonkikh-plenok-metodami-atomnoj-fiziki-228108.html
cсылка на страницу
Урок

Физика

134 темы
Слайды
900igr.net > Презентации по физике > Ядро атома > Основы анализа поверхности твердых тел и тонких пленок методами атомной физики